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  • 廣東可易亞半導(dǎo)體科技有限公司

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    深圳晶圓公司概況-晶圓提供商-晶圓制造過(guò)程及工藝-KIA MOS管

    信息來(lái)源:本站 日期:2019-05-27 

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    深圳晶圓

    深圳晶圓公司

    深圳晶圓公司,深圳市可易亞半導(dǎo)體科技有限公司.是一家專業(yè)從事中、大、功率場(chǎng)效應(yīng)管(MOSFET)、快速恢復(fù)二極管、三端穩(wěn)壓管開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì),集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的國(guó)家高新技術(shù)企業(yè)。


    深圳晶圓


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    KIA半導(dǎo)體的產(chǎn)品涵蓋工業(yè)、新能源、交通運(yùn)輸、綠色照明四大領(lǐng)域,不僅包括光伏逆變及無(wú)人機(jī)、充電樁、這類新興能源,也涉及汽車配件、LED照明等家庭用品。KIA專注于產(chǎn)品的精細(xì)化與革新,力求為客戶提供最具行業(yè)領(lǐng)先、品質(zhì)上乘的科技產(chǎn)品。

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    深圳晶圓-晶圓制造過(guò)程及工藝

    (一)制造過(guò)程

    二氧化硅礦石經(jīng)由電弧爐提煉,鹽酸氯化,并經(jīng)蒸餾后,制成了高純度的多晶硅,其純度高達(dá)99.999999999%。晶圓制造廠再將此多晶硅熔解,再于溶液內(nèi)摻入一小粒的硅晶體晶種,然后將其慢慢拉出,以形成圓柱狀的單晶硅晶棒,由于硅晶棒是由一顆小晶粒在融熔態(tài)的硅原料中逐漸生成,此過(guò)程稱為“長(zhǎng)晶”。 硅晶棒再經(jīng)過(guò)研磨,拋光,切片后,即成為集成電路工廠的基本原料——硅晶圓片,這就是“晶圓”。


    簡(jiǎn)單的說(shuō),單晶硅圓片由普通硅砂拉制提煉,經(jīng)過(guò)溶解、提純、蒸餾一系列措施制成單晶硅棒,單晶硅棒經(jīng)過(guò)拋光、切片之后,就成為了晶圓。


    晶圓經(jīng)多次光罩處理,其中每一次的步驟包括感光劑途布、曝光、顯影、腐蝕、滲透或蒸著等等,制成具有多層線路與元件的IC晶圓,再交由后段的測(cè)試、切割、封裝廠,以制成實(shí)體的集成電路成品。


    (二)制造工藝

    晶圓制造工藝

    表面清洗

    晶圓表面附著一層大約2um的Al2O3和甘油混合液保護(hù)之,在制作前必須進(jìn)行化學(xué)刻蝕和表面清洗。


    深圳晶圓


    1、初次氧化

    有熱氧化法生成SiO2 緩沖層,用來(lái)減小后續(xù)中Si3N4對(duì)晶圓的應(yīng)力氧化技術(shù):干法氧化Si(固)+O2 à SiO2(固)和濕法氧化Si(固)+2H2O à SiO2(固)+2H2。干法氧化通常用來(lái)形成,柵極二氧化硅膜,要求薄,界面能級(jí)和固定電荷密度低的薄膜。


    2、熱CVD(HotCVD)/(thermalCVD)

    此方法生產(chǎn)性高,梯狀敷層性佳(不管多凹凸不平,深孔中的表面亦產(chǎn)生反應(yīng),及氣體可到達(dá)表面而附著薄膜)等,故用途極廣。膜生成原理,例如由揮發(fā)性金屬鹵化物(MX)及金屬有機(jī)化合物(MR)等在高溫中氣相化學(xué)反應(yīng)(熱分解,氫還原、氧化、替換反應(yīng)等)在基板上形成氮化物、氧化物、碳化物、硅化物、硼化物、高熔點(diǎn)金屬、金屬、半導(dǎo)體等薄膜方法。


    3、熱處理

    在涂敷光刻膠之前,將洗凈的基片表面涂上附著性增強(qiáng)劑或?qū)⒒旁诙栊詺怏w中進(jìn)行熱處理。這樣處理是為了增加光刻膠與基片間的粘附能力,防止顯影時(shí)光刻膠圖形的脫落以及防止?jié)穹ǜg時(shí)產(chǎn)生側(cè)面腐蝕(sideetching)。光刻膠的涂敷是用轉(zhuǎn)速和旋轉(zhuǎn)時(shí)間可自由設(shè)定的甩膠機(jī)來(lái)進(jìn)行的。


    4、去除氮化硅

    此處用干法氧化法將氮化硅去除


    5、離子注入

    離子布植將硼離子(B+3) 透過(guò)SiO2 膜注入襯底,形成P型阱離子注入法是利用電場(chǎng)加速雜質(zhì)離子,將其注入硅襯底中的方法。離子注入法的特點(diǎn)是可以精密地控制擴(kuò)散法難以得到的低濃度雜質(zhì)分布。


    6、退火處理

    去除光刻膠放高溫爐中進(jìn)行退火處理 以消除晶圓中晶格缺陷和內(nèi)應(yīng)力,以恢復(fù)晶格的完整性。使植入的摻雜原子擴(kuò)散到替代位置,產(chǎn)生電特性。


    7、去除氮化硅層

    用熱磷酸去除氮化硅層,摻雜磷(P+5) 離子,形成N 型阱,并使原先的SiO2 膜厚度增加,達(dá)到阻止下一步中n 型雜質(zhì)注入P 型阱中。


    8、去除SIO2層

    退火處理,然后用HF 去除SiO2 層。


    9、干法氧化法

    干法氧化法生成一層SiO2 層,然后LPCVD 沉積一層氮化硅。此時(shí)P 阱的表面因SiO2 層的生長(zhǎng)與刻蝕已低于N 阱的表面水平面。這里的SiO2 層和氮化硅的作用與前面一樣。接下來(lái)的步驟是為了隔離區(qū)和柵極與晶面之間的


    10、隔離層。

    光刻技術(shù)和離子刻蝕技術(shù),利用光刻技術(shù)和離子刻蝕技術(shù),保留下柵隔離層上面的氮化硅層。


    11、濕法氧化

    生長(zhǎng)未有氮化硅保護(hù)的SiO2 層,形成PN 之間的隔離區(qū)。


    12、生成SIO2薄膜

    熱磷酸去除氮化硅,然后用HF 溶液去除柵隔離層位置的SiO2 ,并重新生成品質(zhì)更好的SiO2 薄膜, 作為柵極氧化層。


    13、氧化

    LPCVD 沉積多晶硅層,然后涂敷光阻進(jìn)行光刻,以及等離子蝕刻技術(shù),柵極結(jié)構(gòu),并氧化生成SiO2 保護(hù)層。


    14、形成源漏極

    表面涂敷光阻,去除P 阱區(qū)的光阻,注入砷(As) 離子,形成NMOS 的源漏極。用同樣的方法,在N 阱區(qū),注入B 離子形成PMOS 的源漏極。


    15、沉積

    利用PECVD 沉積一層無(wú)摻雜氧化層,保護(hù)元件,并進(jìn)行退火處理。


    16、沉積摻雜硼磷的氧化層

    含有硼磷雜質(zhì)的SiO2 層,有較低的熔點(diǎn),硼磷氧化層(BPSG) 加熱到800 oC 時(shí)會(huì)軟化并有流動(dòng)特性,可使晶圓表面初級(jí)平坦化。


    17、深處理

    濺鍍第一層金屬利用光刻技術(shù)留出金屬接觸洞,濺鍍鈦+ 氮化鈦+ 鋁+ 氮化鈦等多層金屬膜。離子刻蝕出布線結(jié)構(gòu),并用PECVD 在上面沉積一層SiO2 介電質(zhì)。并用SOG (spin on glass) 使表面平坦,加熱去除SOG 中的溶劑。然后再沉積一層介電質(zhì),為沉積第二層金屬作準(zhǔn)備。


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